एल्यूमीनियम संक्षारण परीक्षण

May 19, 2025

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1। एल्यूमीनियम मिश्र धातुओं के लिए मानक त्वरित संक्षारण परीक्षण विधियाँ क्या हैं?

सामान्य परीक्षण मानक:

नमक स्प्रे (कोहरे) परीक्षण‌ (ASTM B117):

35 डिग्री पर 5% NaCl समाधान

पिटिंग प्रतिरोध का मूल्यांकन करता है (जैसे, समुद्री-ग्रेड 5083 के लिए 3000HR)

गैल्वेनिक संक्षारण परीक्षण‌ (ASTM G71):

डिस्मिलर धातुओं के साथ जोड़े एल्यूमीनियम (जैसे, स्टील\/तांबा)

अंतर -समृद्ध संक्षारण (IGC) परीक्षण‌ (ASTM G110):

6-24 hrs के लिए अम्लीय nacl+h₂o₂ में विसर्जन

परीक्षण चयन मार्गदर्शिका‌:

  एयरोस्पेस ऑटोमोटिव समुद्री
पसंदीदा परीक्षा Exco* स्वात ** Astm g 85- a3

*EXCO: ASTM G34 (एक्सफोलिएशन संक्षारण)
** स्वाट: अम्लीय नमक स्प्रे

 

2। संक्षारण परीक्षण के परिणामों की व्याख्या कैसे मात्रात्मक रूप से करें?

माप के तरीके:

भार में कमी‌:

सूत्र: संक्षारण दर (mpy)=(534 × w)\/(d × a × t)

W=वजन घटाने (mg), d=घनत्व (g\/cm}), a=क्षेत्र (in {), t=समय (hr)

गड्ढे की गहराई विश्लेषण‌:

3 डी मानचित्रण के लिए ऑप्टिकल प्रोफिलोमेट्री

विमान की खाल के लिए अधिकतम गहराई 50μm से कम या बराबर है (AMS 2778)

विद्युत रासायनिक पैरामीटर‌:

पैरामीटर स्वीकार्य सीमा
इकोर >-0। 8V बनाम SCE
इकोर <1μA/cm²

 

3। एल्यूमीनियम के संक्षारण प्रतिरोध को प्रभावित करने वाले प्रमुख कारक क्या हैं?

सामग्री और पर्यावरणीय कारक:

कारक प्रभाव उदाहरण
मिश्र धातु श्रृंखला 5xxx> 6xxx> 2xxx समुद्री जल में 5052 बनाम 2024
गुस्सा T7> T6> T4 7075- t73 बनाम 7075- t6
क्लोराइड एकाग्रता 1 0 x तेजी से 3.5% बनाम 0.5% पर तटीय बनाम अंतर्देशीय
पीएच पीएच पर गंभीर<4 or >9 एसिड रेन (पीएच 4.5) क्षति

संरक्षण के तरीके:

Anodizing (20-25 μM के लिए mil-a -8625)

संक्षारण-अवरोधक प्राइमरों (जैसे, स्ट्रोंटियम क्रोमेट)

 

4। क्षेत्र संक्षारण निगरानी कैसे करें?

औद्योगिक तकनीक:

विद्युत प्रतिरोध (ईआर) जांच‌:

वास्तविक समय में धातु की हानि को मापता है (0। 1μM रिज़ॉल्यूशन)

वायुमंडलीय जंग कूपन‌:

100 × 50 × 3 मिमी नमूने 1-12 महीने उजागर हुए

विद्युत रासायनिक शोर निगरानी‌:

जल्दी पिटिंग का पता लगाता है (<100μm)

आंकड़ा सहसंबंध‌:

ISO 9223 संक्षारक श्रेणियां (C 1- C5) मिश्र धातु के प्रदर्शन के लिए मानचित्र

 

5। क्या उन्नत लक्षण वर्णन तकनीक संक्षारण तंत्र का विश्लेषण करती है?

प्रयोगशाला के तरीके:

तकनीक आवेदन संकल्प
SEM-ईडीएस गड्ढे रसायन विज्ञान 1μm
SKPFM वोल्टा संभावित मानचित्रण 50nm
XPS ऑक्साइड फिल्म रचना 5nm गहराई

केस स्टडी‌:

TEM से पता चलता है कि θ- चरण (Al₂cu) विघटन 2024- t3 में IGC का कारण बनता है

 

aluminum flat bar

 

aluminum bar

 

aluminum